Santander. – La investigadora del Consejo Superior de Investigaciones Científicas (CSIC) Agustina Asenjo ha hablado de Microscopías avanzadas de alta resolución. Los ojos del nanomundo dentro del programa del curso Nanotecnología: luces y sombras del control de la materia a escala atómica que se celebra en la Universidad Internacional Menéndez Pelayo.
Asenjo ha desarrollado la importancia de la nanotecnología, campo que se dedica al diseño y manipulación de la materia a nivel de átomos o moléculas, debido a su "resolución social e industrial". Así, ha destacado que a través de esta disciplina se consiguen nuevas propiedades en materiales que van a permitir una mayor velocidad de trabajo, buscar elementos alternativos y una mayor densidad y empaquetamiento. Es decir, "propiedades más potentes, más rápidas, que ocupen menos espacio y consuman menos energía".
La investigadora del CSIC ha hecho hincapié en que cuando se manipula la materia a escala de átomos y moléculas (aplicación de la nanotecnología) se deben tener en cuenta los procesos de caracterización, basados en la repetición para estudiar el correcto funcionamiento de una aplicación determinada. Asimismo, Asenjo ha explicado los tres microscopios que han sido claves para el avance de la ciencia, la tecnología y la medicina. Estos aparatos se utilizan "para el tratamiento local de cada material" y en función de la resolución que se quiera obtener para estudiarlos, se empleará "el microscopio de óptica, el de electrónica o el de campo cercano". Y es que cada uno de ellos tiene unas ventajas e inconvenientes: así, el óptico tiene una resolución más baja, permite menor campo de visión y no daña las propiedades del material; y el de electrónica y el de campo cercano tienen "efectos destructivos" y no permiten el estudio de "un material biológico en su entorno fisiológico".
En el curso, Asenjo ha repasado los fundamentos del STM (Scanning Tunneling Microscope, microscopio efecto túnel), instrumento desarrollado por Gerd Binning y Heinrich Rohrer (ganadores del premio Nobel de Física 1986), que permite obtener imágenes de una superficie sólida con resolución atómica. En esta línea, también ha explicado las bases de la microcopia de sonda de barrido (SPM), una herramienta de imagen con un amplio rango dinámico, que abarca el campo de trabajo de los microscopios óptico y electrónico y que se considera como un perfilador con una resolución en tres dimensiones. Así, la investigadora del CSIC ha destacado que se trata de "una técnica en continuo desarrollo" y que gracias a ella se puede estudiar "la conductividad en diversos materiales, observar el ADN de un virus o inspeccionar nanoestructuras y materiales biológicos".
Por su parte, también participarán en el encuentro el profesor de investigación Ikerbasque y líder del grupo 'Nanoimaging', José Ignacio Pascual y la presidenta de la Asociación de Usuarios de Sincrotón de España (AUSE), María Cruz García que hablarán sobre Microscopia y espectroscopia con resolución nanoscópica y Grandes instalaciones científicas: un universo de posibilidades al servicio de la nanotecnología, respectivamente.
FOTOGRAFÍA: Esteban Cobo / UIMP
