El trabajo, publicado en la revista Nature Communications, muestra el análisis con rayos X de unos dominios magnéticos especialmente pequeños y estables
Un equipo científico de la Universidad de Oviedo y del Centro de Investigación en Nanomateriales y Nanotecnología (CINN) (Centro mixto con el CSIC), en colaboración con investigadores de la Universidad de Oporto, de la instalación sincrotrón ALBA y del Centro Nacional de Microelectrónica, ambos de Barcelona, han conseguido analizar en detalle las características a escala nanométrica de dominios magnéticos, lo que permitirá aumentar la capacidad de almacenamiento de los dispositivos electrónicos.
Con el fin de reducir el tamaño de los bytes y aumentar así la capacidad de los discos duros, los investigadores han desarrollado una técnica de imagen para ver con rayos X unos dominios magnéticos muy pequeños y estables denominados merones (o medios skyrmiones) tal y como se detalla en su artículo, publicado hoy en la prestigiosa revista Nature Communications.
En el trabajo han participado distintos profesores de la Universidad de Oviedo del departamento de Física y el CINN. La profesora María Vélez destaca que se trata de una investigación básica “que contribuye al proyecto del sincrotrón nacional ALBA, una gran instalación que sirve de base a la comunidad científica internacional para el desarrollo de técnicas de imagen y caracterización avanzadas”.
La tecnología digital de grabación magnética ha progresado significativamente en las últimas décadas gracias a los avances científicos en nanomagnetismo. Hoy en día, los bytes magnéticos tienen dimensiones de pocas decenas de nanómetros y los dispositivos magnéticos están basados en apilamientos de láminas delgadas de unos pocos nanómetros. Por ello, para comprender y optimizar las propiedades de estos sistemas es necesario disponer de técnicas de visualización de la estructura magnética a esta pequeña escala. El método empleado por los investigadores es la Microscopía Magnética de Rayos X.
Artículo y autores
"Nanoscale Imaging of Buried Topological Defects with Quantitative X-Ray Magnetic Microscopy” por C.Blanco-Roldán, C. Quirós, A. Sorrentino, A. Hierro-Rodríguez, L. M. Álvarez-Prado, R. Valcárcel, M. Duch, N. Torras, J. Esteve, J. I. Martín, M. Vélez, J. M. Alameda, E. Pereiro, and S. Ferrer
